T-450 鍍層測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

產品性能

穩定性 :T-450 有著良好的長期穩定性，不需要經常校準儀器。

無需制備樣品 : 無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

綜合性能 : 鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統計功能

技術參數

T-450 鍍層測厚儀工作特點

·測量 5 層 (4 層鍍層 + 底材層 ) 鍍層，同時分析 15 種元素， 自動修正 X 射線重疊譜線

·測量精度高、穩定性好，測量結果精確至 uin

·快速無損測量，測量時間短，最快 10s 內得出測量結果

·可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析

·材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析

·強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值等

·結果輸出：直接打印或一鍵導出到 PDF、Excel 文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等

·測量位置預覽功能；高分辨率彩色 CCD 樣品觀察系統，標準光學放大倍數為 30 倍

·提供全球服務及技術支持